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地 址：廣東東莞市東城區金匯工業園
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CPJ-3015Z系列全正像數字式測量投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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CPJ—3000Z系列全正像數字式測量投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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CPJ-3010系列反像型投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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CPJ-3010系列反像型投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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CPJ—3000Z系列全正像數字式測量投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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CPJ—3000Z系列全正像數字式測量投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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CPJ—3000Z系列全正像數字式測量投影儀是光、機、電一體化的精密高效測量儀器。 影像與工件同向， 簡易直觀。 它廣泛用于機械， 儀表、 電子、 輕工等行業以及院校、研究所、 計量檢定部門。
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正像型測量投影儀系統品質優良， 物鏡成像清晰， 放大倍率準確。 在透射光照明下， 輪廓測量誤差小于O．08％儀器配有微型打印機和腳踏開關， 數據輸出和采樣十分方便。儀器調焦由投影儀筒升降實現， 行程大， 穩定性好。 工作臺不升降， 穩定性好， 測量范圍大， 精度高。
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正像型測量投影儀儀器光學系統品質優良， 物鏡成像清晰， 放大倍率準確。 在透射光照明下， 輪廓測量誤差小于O．08％儀器配有微型打印機和腳踏開關， 數據輸出和采樣十分方便。儀器調焦由投影儀筒升降實現， 行程大， 穩定性好。 工作臺不升降， 穩定性好， 測量范圍大， 精度高。
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反像型測量投影儀儀器光學系統品質優良， 物鏡成像清晰， 放大倍率準確。 在透射光照明下， 輪廓測量誤差小于O．08％儀器配有微型打印機和腳踏開關， 數據輸出和采樣十分方便。儀器調焦由投影儀筒升降實現， 行程大， 穩定性好。 工作臺不升降， 穩定性好， 測量范圍大， 精度高。
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反像型測量投影儀儀器光學系統品質優良， 物鏡成像清晰， 放大倍率準確。 在透射光照明下， 輪廓測量誤差小于O．08％儀器配有微型打印機和腳踏開關， 數據輸出和采樣十分方便。儀器調焦由投影儀筒升降實現， 行程大， 穩定性好。 工作臺不升降， 穩定性好， 測量范圍大， 精度高。
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正像投影儀儀器光學系統品質優良， 物鏡成像清晰， 放大倍率準確。 在透射光照明下， 輪廓測量誤差小于O．08％儀器配有微型打印機和腳踏開關， 數據輸出和采樣十分方便。儀器調焦由投影儀筒升降實現， 行程大， 穩定性好。 工作臺不升降， 穩定性好， 測量范圍大， 精度高。
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系列測量投影儀儀器光學系統品質優良， 物鏡成像清晰， 放大倍率準確。 在透射光照明下， 輪廓測量誤差小于O．08％儀器配有微型打印機和腳踏開關， 數據輸出和采樣十分方便。儀器調焦由投影儀筒升降實現， 行程大， 穩定性好。 工作臺不升降， 穩定性好， 測量范圍大， 精度高。
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二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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二次元影像式測量儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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二次元影像式測繪儀該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域， 在機械、 電子、儀表、 塑膠等行業被廣泛使用。
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三次元影像式測量儀儀器名稱：
儀器名稱：SOV-series
重現性：0．005mm
光柵尺解析力：0．001m
示值精度：4 L／150um
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熒光膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例
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熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例
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電鍍膜厚儀采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例
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熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例
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熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例
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